北斗衛(wèi)星導航射頻芯片是導航系統(tǒng)中的關鍵部分,其指標的優(yōu)劣決定著導航系統(tǒng)的導航精度。通過分析衛(wèi)星導航射頻芯片的結構特點,針對主要參數(shù)進行了測試分析。在基于集成電路自動測試系統(tǒng)(ATE)的基礎上,結合射頻測試設備實現(xiàn)衛(wèi)星導航射頻芯片的性能測試。為何衛(wèi)星導航要采用快速溫變試驗箱做測試，主要能加快效率提高產(chǎn)品的質量及在不同環(huán)境下的使用壽命時間，能迅速提高衛(wèi)星導航電子中的老化性能。

衛(wèi)星導航電子主要的環(huán)境測試設備

1、采用高低溫低氣壓試驗箱做測試，因為要在空中環(huán)境下測試出信號，所以不同環(huán)境下模擬不同的氣候。

2、采用快速溫變試驗箱主要是在線性10/MIN升降溫到25/MIN。

3、采用冷熱沖擊試驗箱，在用于測試材料結構或復合材料，在瞬間下經(jīng)高溫及低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，得以在*短時間內檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。

江蘇北斗現(xiàn)場交機設備拍攝